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	1.		Secondary ion mass spectroscopy of solid surfaces / 订购中著者: V. Cherepin. 出版社: VNU Science Press, 出版日期: 1987. 文献类型: 图书（纸本） , 索书号: 53.8196/C521 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	2.		Secondary ion mass spectrometry, SIMS-II : proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) / 订购中著者: Benninghoven A. 出版社: Springer-Verlag, 出版日期: 1979. 文献类型: 图书（纸本） , 索书号: 54.648083/S445 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	3.		Secondary ion mass spectrometry : SIMS V : proceedings of the fifth international conference, Washington, DC, September 30-October 4, 1985 / 订购中著者: Benninghoven A. 出版社: Springer-Verlag, 出版日期: c1986. 文献类型: 图书（纸本） , 索书号: 54.211083/I61 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介
	4.		Secondary ion mass spectrometry : SIMS IV : proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983 / 订购中著者: Benninghoven A. 出版社: Springer-Verlag, 出版日期: 1984. 文献类型: 图书（纸本） , 索书号: 54.5158083/B469 在馆信息图书信息概览图书目录试读信息内容简介著者简介

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