文献类型

1. 图书（纸本） (20)
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主题

1. scanning electron microscopy (11)
2. microscopy, electron, scanning (5)
3. scanning electron microscope (3)
4. scanning electron microscopes (3)
5. electron probe microanalysis (2)
6. x-ray microanalysis (2)
7. electron microscopy (1)
8. electron probe microscope (1)
9. materials (1)
10. microprobe analysis (1)
11. petrofabric analysis (1)
12. scanning probe microscopy (1)
13. 声学检验 (1)
14. 电子元器件 (1)
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著者

1. scanning electron microscope symposium (5)
2. iit research institute (4)
3. scanning electron microscopy, inc (3)
4. goldstein, joseph, (2)
5. johari, om (2)
6. albrecht, r. m (1)
7. becker, robert p (1)
8. corvin, irene (1)
9. echlin, patrick (1)
10. gabriel, barbra l (1)
11. hayat, m. a., (1)
12. holt, d.b (1)
13. illinois institute of technology (1)
14. newbury, dale e (1)
15. reed, s. j. b (1)
16. reimer, ludwig, (1)
17. rickerby, david.g (1)
18. roomans, g. m (1)
19. shelburne, j.d (1)
20. symposium on the scanning electron microscope (1)
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出版日期

1. 2022 (1)
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馆藏地点

1. 西院西文图书保存本库 (15)
2. 余区图书保存本库 (4)
3. 南湖图书借阅区 (1)
4. 南湖外文图书借阅区 (1)
5. 余区中文图书借阅区 (1)
6. 东院中文图书借阅区 (1)
7. 物流工程系资料室(余区) (1)
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图书馆

1. 武汉理工大学图书馆 (19)
2. 物流工程学院 (1)
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语言种类

1. 汉语 (1)
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在馆

1. 在馆 (20)
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分面检索

资源类型

1. 纸质资源 不在馆 (20)
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