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Microprobe.
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1.
Microprobe analysis /
订购中
著者:
edited by C. A. Andersen.
出版社:
Wiley,
出版日期: [1973]
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
79.872/A544
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内容简介
著者简介
2.
Electron microprobe analysis /
订购中
著者:
S. J. B. Reed.
出版社:
Cambridge University Press,
出版日期: 1975.
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
79.84715/R326
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内容简介
著者简介
3.
Journal of trace and microprobe techniques.
订购中
著者:
出版社:
M. Dekker,
出版日期: c1982-
文献类型:
期刊(纸本) , 索书号:
O65/1
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内容简介
著者简介
4.
电子探针显微分析
已借2次.
订购中
著者:
里德
出版社:
上海科学技术出版社
出版日期: 1980
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
O657.99/1
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内容简介
著者简介
5.
Electron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology /
已借1次.
订购中
著者:
S.J.B. Reed.
出版社:
Cambridge University Press,
出版日期: c2005.
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
P585.2/R323(2)
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内容简介
著者简介
6.
Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis /
订购中
著者:
Yakowitz
Harvey
出版社:
Plenum Press,
出版日期: [1975]
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
TN153/G622
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内容简介
著者简介
7.
Ion microprobe analysis of hrdyogen in titanium in relation to the massive void problem in electron beam welds /
订购中
著者:
Kennedy
J.
出版社:
s. n],
出版日期: 1972.
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
TG406/A237
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内容简介
著者简介
8.
Beam optics of quadrupole probe-forming systems /
订购中
著者:
Watt
F.
出版社:
Hilger,
出版日期: c1984.
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
73.66/G862
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内容简介
著者简介
9.
Microbeam analysis 1982 : proceedings of the 17th Annual Conference of the Society, Washington, D.C., 9-13 Aug. 1982 /
订购中
著者:
Heinrich
Kurt F.J.
出版社:
San Francisco Press,
出版日期: c1982.
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
TN153-53/H469
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内容简介
著者简介
10.
Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications /
订购中
著者:
Lawrence E. Murr.
出版社:
Marcel Dekker,
出版日期: c1982.
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
79.87/M979
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