检索
高级检索
集群检索
书目浏览
中图分类浏览
科图分类浏览
期刊导航
西文期刊字母导航
学科导航
期刊学科导航
我的图书馆
新书通报
中图分类查看
科图分类查看
图书专题
图书荐购
历史荐购
读者荐购
语言:
中文
登录
语言:
中文
登录
前方一致
模糊检索
精确检索
任意词
题名
正题名
ISBN/ISSN
著者
主题词
分类号
控制号
订购号
出版社
索书号
q=john+h.+lau&searchType=standard&isFacet=true&view=standard&searchWay=author&rows=10&sortWay=score&sortOrder=desc&searchWay0=marc&logical0=AND
rows=10&searchWay0=marc&logical0=AND
名称:
描述:
公开/私有:
公开
私有
标题:
描述:
公开/私有:
公开
私有
检索词:
John H. Lau
, 检索到: 10 条结果, 检索时间: 0.028 秒 , 排序选项:
匹配度
出版日期
主题词
题名
著者
索书号
题名拼音
借阅次数
续借次数
题名权重
正题名权重
卷册号
排序方式:
降序排列
升序排列
隐藏分类导航
John H. Lau
CADAL电子资源
集群图书馆
分类导航
T 工业技术
(8)
B 哲学、宗教
(1)
J 艺术
(1)
R 医药、卫生
(1)
分面检索
资源类型
纸质资源
(10)
显示更多..
图书馆
武汉理工大学图书馆
(9)
法学与人文社会学院分馆
(1)
显示更多..
馆藏地点
东院中文图书借阅区
(4)
南湖图书借阅区
(3)
南湖外文图书借阅区
(3)
余区图书保存本库
(3)
余区中文图书借阅区
(2)
南湖保存本图书借阅区
(1)
南湖特藏阅览室
(1)
余区外文图书借阅区
(1)
西院西文图书保存本库
(1)
法学与人文社会学分馆(东院)
(1)
显示更多..
主题
封装工艺
(4)
microelectronic packaging
(3)
three-dimensional integrated circuits
(2)
electronic packaging
(1)
interconnects (integrated circuit technology)
(1)
microelectromechanical systems
(1)
microelectronics
(1)
psychology, pathological
(1)
psychopathology
(1)
thermal stresses
(1)
世界
(1)
微电子技术
(1)
电子器件
(1)
艺术史
(1)
芯片
(1)
集成电路
(1)
集成芯片
(1)
显示更多..
著者
lau, john h
(3)
刘汉诚
(3)
(美) 刘汉诚著
(2)
john h. lau
(2)
曹立强
(2)
(美) john h. lau著
(1)
alloy, lauren b
(1)
cao, liqiang
(1)
h
(1)
hugh honour, john fleming
(1)
j
(1)
j. h
(1)
john h. lau,shi-wei ricky lee著
(1)
lau, john h.,
(1)
manos, margaret j
(1)
qin, fei
(1)
riskind, john h
(1)
s.-w. r
(1)
wang, qidong
(1)
冯慧
(1)
显示更多..
出版日期
2002
(1)
2003
(1)
2014
(1)
2017
(1)
2023
(1)
显示更多..
文献类型
图书(纸本)
(10)
显示更多..
语言种类
汉语
(5)
英语
(1)
显示更多..
在馆
在馆
(10)
显示更多..
保存至书单:
创建新书单
共 1 页
首页
<上一页
1
下一页>
尾页>>
1.
Thermal stress and strain in microelectronics packaging /
订购中
著者:
Lau
John H.
出版社:
Van Nostrand Reinhold,
出版日期: c1993.
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
TN4/T411
在馆信息
图书信息概览
图书目录
试读信息
内容简介
著者简介
2.
Advanced MEMS packaging /
订购中
著者:
Lau
John H.
出版社:
McGraw-Hill,
出版日期: c2010.
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
TN405/A244
在馆信息
图书信息概览
图书目录
试读信息
内容简介
著者简介
3.
芯片尺寸封装:设计、材料、工艺、可靠性及应用:design, materials, process, reliability, and applications
已借5次.
订购中
著者:
J. H. 刘
S.-W. R. 李
出版社:
清华大学出版社
出版日期: 2003
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
TN430.594/1
在馆信息
图书信息概览
图书目录
试读信息
内容简介
著者简介
4.
3D IC integration and packaging /
订购中
著者:
John H. Lau
出版社:
出版日期:
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
TN405/L366
在馆信息
图书信息概览
图书目录
试读信息
内容简介
著者简介
5.
三维电子封装的硅通孔技术
已借3次.
订购中
著者:
刘汉诚
出版社:
化学工业出版社
出版日期: 2014
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
TN605/18
在馆信息
图书信息概览
图书目录
试读信息
内容简介
著者简介
6.
3D IC integration and packaging
已借3次.
订购中
著者:
刘汉诚
出版社:
科学出版社
出版日期: 2017
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
TN405/32
在馆信息
图书信息概览
图书目录
试读信息
内容简介
著者简介
7.
异构集成技术
订购中
著者:
刘汉诚
出版社:
机械工业出版社
出版日期: 2023
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
TN430.5/10
在馆信息
图书信息概览
图书目录
试读信息
内容简介
著者简介
8.
Through-silicon vias for 3D integration =: 硅通孔3D集成技术 /
订购中
著者:
Cao
Liqiang
Qin
Fei
Wang
Qidong
出版社:
科学出版社,
出版日期: c2014.
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
TN4/L366
在馆信息
图书信息概览
图书目录
试读信息
内容简介
著者简介
9.
Abnormal psychology : current perspectives /
订购中
著者:
Riskind
John H.
Manos
Margaret J.
出版社:
Posts & Telecom Press :
出版日期: 2005.
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
B846/B983(9)
在馆信息
图书信息概览
图书目录
试读信息
内容简介
著者简介
10.
世界艺术史
订购中
著者:
H. 昂纳
J. 弗莱明
出版社:
南方出版社
出版日期: 2002
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
J110.9/33
在馆信息
图书信息概览
图书目录
试读信息
内容简介
著者简介
共 1 页
首页
<上一页
1
下一页>
尾页>>