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主题

1. electron microscopy (9)
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18. 中国 (2)
19. 对撞机 (2)
20. 正负电子对撞 (2)
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著者

1. scanning electron microscope symposium (5)
2. iit research institute (4)
3. edington, jeffrey william (3)
4. scanning electron microscopy, inc (3)
5. electron microscopy society of america (2)
6. hayat, m. a., (2)
7. johari, om (2)
8. microscopical society of canada (2)
9. royal microscopical society (great britain) (2)
10. 王贻芳 (2)
11. 王贻芳主编 (2)
12. (英) 海因著 (1)
13. albrecht, r. m (1)
14. alderson, ronald h (1)
15. american society for metals (1)
16. american society for testing and materials (1)
17. american society for testing materials (1)
18. annual meeting of the electron microscopy society of america (1)
19. annual meeting of the microscopicla society of canada (1)
20. bargmann, w (1)
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出版日期

1. 1965 (1)
2. 2008 (1)
3. 2011 (1)
4. 2015 (1)
5. 2018 (1)
6. 2019 (1)
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文献类型

1. 图书（纸本） (46)
2. 学位论文 (1)
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语言种类

1. 汉语 (6)
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在馆

1. 在馆 (47)
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