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Burnin
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1.
封面仅供参考
LD老化系统的设计与实现
订购中
著者:
杨威
出版社:
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文献类型:
学位论文 , 索书号:
TN248.4/6
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APD老化电源与监测系统
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魏恒毅
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学位论文 , 索书号:
TP319/11
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Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits / Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty.
订购中
著者:
Chakrabarty
Krishnendu.
出版社:
Artech House,
出版日期: 2010.
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
TN4/B151
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COC芯片老化测试系统的设计与实现
订购中
著者:
朱慧
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文献类型:
学位论文 , 索书号:
TN407/2
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5.
封面仅供参考
一类平行机和批处理机组成的二阶段柔性流水作业问题
订购中
著者:
何龙敏
出版社:
上海大学出版社
出版日期: 2009
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
O223/14
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6.
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有人想要你的影子
已借1次.
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著者:
马宗达
出版社:
南海出版公司
出版日期: 2024
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
I351.45/41
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7.
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接下来会发生什么:阿特伍德随笔集:2004-2021:2004-2021
已借1次.
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著者:
阿特伍德
出版社:
上海译文出版社
出版日期: 2024
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
I711.65/33
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8.
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焚书:a history of knowledge under attack
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著者:
奥文登
出版社:
民主与建设出版社
出版日期: 2023
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
G259.19/6
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9.
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灼心之爱
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著者:
赵大河
出版社:
河南文艺出版社
出版日期: 2023
文献类型:
图书(电子) , 索书号:
I247.7/D1
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10.
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全息玫瑰碎片
已借7次.
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著者:
吉布森
出版社:
北京时代华文书局
出版日期: 2021
文献类型:
图书(纸本) , 索书号:
I711.45/231
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