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1.
几何量公差与检测 已借23次.
著者: 甘永立
出版社: 上海科学技术出版社   出版日期: 2013
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TG801/40(10)
2.
几何量公差与检测 已借31次.
著者: 甘永立
出版社: 上海科学技术出版社   出版日期: 2010
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TG801/40(9)
3.
几何公差问答 已借25次.
著者: 甘永立
出版社: 上海科学技术出版社   出版日期: 2009
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TG801-44/12
4.
几何量公差与检测 已借16次.
著者: 甘永立
出版社: 上海科学技术出版社   出版日期: 2008
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TG801/40(8)
5.
几何量公差与检测 已借36次.
著者: 甘永立
出版社: 上海科学技术出版社   出版日期: 2005
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TG801/40(7)
6.
著者: 甘永立
出版社: 上海科学技术出版社   出版日期: 2001
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TG801/67
7.
著者: 甘永立
出版社: 上海科学技术出版社   出版日期: 2000
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TB92/13
8.
著者: 甘永立
出版社: 上海科学技术出版社   出版日期: 1995
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TG801-44/G122.1
9.
著者: 甘永立
出版社: 上海科学技术出版社   出版日期: 1995
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TG801-33/2(2)
10.
形状和位置误差检测 已借1次.
著者: 甘永立
出版社: 国防工业出版社   出版日期: 1995
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TG83/10