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资源类型

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图书馆

1. 武汉理工大学图书馆 (11)
2. 材料学院 (2)
3. 理学院 (1)
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馆藏地点

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4. 西院中文图书借阅区 (3)
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6. 南湖保存本图书借阅区 (1)
7. 余区图书保存本库 (1)
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主题

1. 可靠性 (5)
2. 电子元件 (5)
3. 研究 (5)
4. 失效分析 (3)
5. 封装工艺 (2)
6. 电子器件 (2)
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17. 评价法 (1)
18. 集成电路 (1)
19. 静电防护 (1)
20. 预测 (1)
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著者

1. 恩云飞 (12)
2. 工业和信息化部电子第五研究所组编 (4)
3. 何小琦 (3)
4. 中国 (2)
5. 周斌 (2)
6. 孔学东 (2)
7. 工业和信息化部 (2)
8. 工业和信息化部电子第五研究所 (2)
9. 来萍 (2)
10. 电子第五研究所 (2)
11. (美) allyson l. hartzell, mark g. da silva, (瑞士) herbert r. shea著 (1)
12. (美) h. 阿德比利, 迈克尔·派克著 (1)
13. (美) steven h. voldman著 (1)
14. haleh ardebili, michael g. pecht (1)
15. 何小琦, 恩云飞, 周斌编著 (1)
16. 何小琦, 恩云飞, 宋芳芳编著 (1)
17. 刘高远 (1)
18. 周斌, 恩云飞, 陈思编著 (1)
19. 哈策尔 (1)
20. 孔学东, 恩云飞, 尧彬等翻译 (1)
21. 显示更多..

出版日期

1. 2015 (3)
2. 2012 (2)
3. 2006 (1)
4. 2009 (1)
5. 2013 (1)
6. 2014 (1)
7. 2020 (1)
8. 2022 (1)
9. 2023 (1)
10. 显示更多..

文献类型

1. 图书（纸本） (12)
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语言种类

1. 汉语 (12)
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在馆

1. 在馆 (12)
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