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1.
半导体测试技术 已借3次.
著者: 孙以材
出版社: 冶金工业出版社   出版日期: 1984
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: 73.72/990
2.
出版社: 冶金工业出版社   出版日期: 2009
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TN405/19
3.
出版社: 天津大学出版社   出版日期: 2017
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TB115.7/5
4.
出版社: 冶金   出版日期: 2012年7月
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: O302/8
5.
出版社: 冶金工业出版社   出版日期: 2011
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: O441.1/11
6.
出版社: 冶金工业出版社   出版日期: 2010
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TP212/230
7.
出版社: 冶金工业出版社   出版日期: 2000
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TP212/S531.1