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  1. 理学院 x

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1.
著者: 杨德仁
出版社: 科学出版社   出版日期: 2016
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TN304.2/22
2.
半导体材料测试与分析 已借53次.
著者: 杨德仁
出版社: 科学出版社   出版日期: 2010
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TN304.07/3
3.
出版社: Science Press,   出版日期: c2004.
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TN304-532/S617