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    在馆

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1.
现代测试技术及应用 已借49次.
著者: 张发启
出版社: 西安电子科技大学出版社   出版日期: 2005
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TB4/11
2.
出版社: 西安电子科技大学出版社   出版日期: 2006
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TP273/318