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1.
可靠性与寿命试验 已借8次.
著者: 姜同敏
出版社: 国防工业出版社   出版日期: 2012
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TJ01/5
2.
出版社: 清华大学出版社   出版日期: 2011
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TB126-39/12
3.
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2010
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TH122/740(2)
4.
出版社: 化学工业出版社   出版日期: 2009
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TP391.73/41
5.
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2008
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TP368.1/466
6.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2007
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TP368.1/381
7.
出版社: 科学出版社   出版日期: 2007
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TU399/12
8.
微机原理与接口技术 已借23次.
著者: 周明德
出版社: 人民邮电出版社   出版日期: 2007
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TP36/59(2)
9.
出版社: 清华大学出版社   出版日期: 2007
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TP368.1/419
10.
著者: 管耀文
出版社: 人民邮电出版社   出版日期: 2007
文献类型: 图书(纸本) , 索书号: TG76-39/133