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聚合物表面分析:X射线光电子谱(XPS)和静态次级离子质谱(SSIMS)

题名/责任者:
聚合物表面分析 / (英国)布里格斯 D.著 , 曹立礼, 邓宗武译
ISBN:
7-5025-3397-4 价格: CNY19.00
语种:
汉语
载体形态:
197页 : 图 ; 21cm
出版发行:
北京 : 化学工业出版社, 2001
主题词:
高聚物 表面分析
中图分类法 :
O631 版次: 4
其它题名:
X射线光电子谱(XPS)和静态次级离子质谱(SSIMS)
主要责任者:
D. 布里格斯,
次要责任者:
曹立礼
次要责任者:
邓宗武
索书号
O631/13
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限定所在馆: 限定所在馆藏地点: 限定馆藏状态:
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200|1 |▼a聚合物表面分析▼Aju he wu biao mian -
   |  |fen xi▼eX射线光电子谱(XPS)和静态次级离子质谱(-
   |  |SSIMS)▼f(英国)布里格斯 D.著▼g曹立礼, 邓宗武译
210|  |▼a北京▼c化学工业出版社▼d2001
215|  |▼a197页▼c图▼d21cm
311|  |▼a本书据英国Cambridge University出版社-
   |  |1998年英文版译出
320|  |▼a有书目 ( 第191-197页 )。
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   |  |olymers by XPS and static Sims-
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   |  |▼AX she xian guang dian zi pu(-
   |  |XPS) he jing tai ci ji li zi z-
   |  |hi pu(SSIMS)
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   |  |iggs, D.)▼4著
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