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The kelvin probe force microscopy and its related technology with high sensitivity and high resolution =: 高灵敏及高分辨KPFM及其相关技术 /

ISBN/ISSN:
9787302539537
中图分类法 :
O657.99
著者:
Ma, Zongmin (马宗敏),
题名:
The kelvin probe force microscopy and its related technology with high sensitivity and high resolution = [高灵敏及高分辨KPFM及其相关技术 ]
其它题名:
高灵敏及高分辨KPFM及其相关技术
载体形态:
ix, 219 pages : illustrations ; 25 cm.
主题词:
Probes (Electronic instruments)
主题词:
Microstructure Measurement.
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