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纳米材料的X射线分析 |
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题名/责任者:
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纳米材料的X射线分析 / 程国峰, 杨传铮编著 |
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ISBN:
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978-7-122-33416-9 价格： CNY88.00 |
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语种:
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汉语 |
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载体形态:
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351页 : 图 ; 24cm |
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出版发行:
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北京 : 化学工业出版社, 2019 |
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内容提要:
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本书是主要介绍利用X射线等激发样品从而表征材料结构，特别是纳米材料晶体结构相关信息的专著。考虑到纳米材料的特殊性，本书分为三个部分：晶体学基础、X射线衍射理论基础、X射线实验装置和方法等四章为基础部分；中间部分是X射线衍射分析方法和应用，包括物相定性和定量、晶体学参数测定、纳米材料微结构的衍射线形分析、Rietveld结构精修和小角散射等；最后介绍了化学组成和原子价态、纳米薄膜和介孔材料等的X射线分析。 |
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主题词:
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纳米材料 X射线 分析 |
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中图分类法
:
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TB383 版次： 5 |
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主要责任者:
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程国峰 编著 |
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主要责任者:
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杨传铮 编著 |
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版次:
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第2版 |
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使用对象附注:
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高等院校相关专业师生、以及从事X射线衍射与散射技术以及X射线谱等分析的专业人员和从事纳米材料相关的研究人员、工程技术人员 |
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标签:
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相关主题:
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限定所在馆:
限定所在馆藏地点:
限定馆藏状态:
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