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Complexity of a top-down capture rule / |
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中图分类法
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TP3 |
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题名:
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Complexity of a top-down capture rule / |
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出版发行:
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New York : [Institute of Electrical and Electronics Engineers] ; , c19uu. |
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载体形态:
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35 p. : ill. ; 28 cm. |
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附注:
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"Report No. STAN-CS-84-1009" |
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主要责任者:
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Ullman, Jeffrey D. |
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标签:
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限定所在馆:
限定所在馆藏地点:
限定馆藏状态:
HEA| |00778nam 2200181 i 4500 001| |021997013536 005| |20050603103357.0 008| |790917s19 nyua b 100 0 eng 093| |▼aTP3▼23 245|00|▼aComplexity of a top-down cap- | |ture rule /▼cYehoshua Sagiv an- | |d Jeffrey D.Ullman. 260| |▼aNew York :▼b[Institute of El- | |ectrical and Electronics Engin- | |eers] ;▼aLong Beach, Calif. :▼- | |bcopies available from IEEE Co- | |mputer Society,▼cc19uu. 300| |▼a35 p. :▼bill. ;▼c28 cm. 500| |▼a"Report No. STAN-CS-84-1009" 504| |▼aIncludes bibliographical references. 700|1 |▼aUllman, Jeffrey D. 710|2 |▼aStanford University :▼bDepar- | |tment of computer scxience. 950| |▼aJ▼fTP3/S129 999| |▼tC▼Atshs14▼a20050603 10:29:31- | |▼Mtshs14▼m20050603 10:33:57▼Gt- | |shs14▼g20050603 10:34:15
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